晶圆缺陷检测系统LODAS
列真公司在半导体光罩检测设备上积累了独自技术, 主产品 LODAS ™系列具有日本专利权的激光检测技术,可同时探测收集激光的反射光,透射光以及共聚焦,可一次性检查第三代半导体 SIC 等材料表面,背面和内部的缺陷,可探测最小缺陷为10
手持式矿石分析仪,矿石品位检测仪,矿石元素分析仪,便携式矿石分析仪
产品型号:STA4000A 原产地: 美国 产品描述: 在采矿行业中,标准检验分析的矿石元素包括:钛,钒,铬,锰,铁,钴,镍,铜,锌,铷,锶,锆,铌,钼,银,锡,锑,钽,铪,钨,铅,铋。
TC-WSB-3Y微机型荧光白度仪
微机型荧光白度仪由光源、光学系统、探测系统、微机数据处理与显示系统等构成。定义光谱漫反射击比均为1的理想表面的白度为100,光谱漫反射比均为零的黑表面白度为0。
多用途表面性能测量台
主要用途:● 橡胶辊筒的摩擦测量● 化学品和化妆品滑动试验● 平台性能试验● 电线摩擦测量● 各种类型胶带的粘性测量● 各类型涂层摩擦磨损划痕试验● 铅笔硬度试验(符合JIS K5600)● 薄膜的摩擦磨损性试验
